Measurement of the branching fraction and CP asymmetry of B0 →π0π0 decays using 198×106 B B ¯ pairs in Belle II data

F. Abudinén, I. Adachi, K. Adamczyk, L. Aggarwal, H. Ahmed, H. Aihara, N. Akopov, A. Aloisio, N. Anh Ky, D. M. Asner, H. Atmacan, T. Aushev, V. Aushev, H. Bae, S. Bahinipati, P. Bambade, Sw Banerjee, S. Bansal, M. Barrett, J. BaudotM. Bauer, A. Baur, A. Beaubien, J. Becker, P. K. Behera, J. V. Bennett, E. Bernieri, F. U. Bernlochner, V. Bertacchi, M. Bertemes, E. Bertholet, M. Bessner, S. Bettarini, V. Bhardwaj, B. Bhuyan, F. Bianchi, T. Bilka, S. Bilokin, D. Biswas, D. Bodrov, A. Bolz, J. Borah, A. Bozek, M. Bračko, P. Branchini, R. A. Briere, T. E. Browder, A. Budano, S. Bussino, M. Campajola, L. Cao, G. Casarosa, C. Cecchi, M. C. Chang, P. Chang, R. Cheaib, P. Cheema, V. Chekelian, C. Chen, Y. Q. Chen, B. G. Cheon, K. Chilikin, K. Chirapatpimol, H. E. Cho, K. Cho, S. J. Cho, S. K. Choi, S. Choudhury, D. Cinabro, J. Cochran, L. Corona, S. Cunliffe, S. Das, F. Dattola, E. De La Cruz-Burelo, S. A. De La Motte, G. De Marino, G. De Nardo, M. De Nuccio, G. De Pietro, R. De Sangro, M. Destefanis, S. Dey, A. De Yta-Hernandez, R. Dhamija, A. Di Canto, F. Di Capua, Z. DoleŽal, I. Domínguez Jiménez, T. V. Dong, M. Dorigo, K. Dort, D. Dossett, S. Dreyer, S. Dubey, G. Dujany, P. Ecker, M. Eliachevitch, P. Feichtinger, T. Ferber, D. Ferlewicz, T. Fillinger, C. Finck, G. Finocchiaro, A. Fodor, F. Forti, A. Frey, B. G. Fulsom, A. Gabrielli, E. Ganiev, M. Garcia-Hernandez, G. Gaudino, V. Gaur, A. Gellrich, G. Ghevondyan, R. Giordano, A. Giri, B. Gobbo, R. Godang, P. Goldenzweig, W. Gradl, T. Grammatico, S. Granderath, E. Graziani, D. Greenwald, Z. Gruberová, T. Gu, Y. Guan, K. Gudkova, J. Guilliams, S. Halder, T. Hara, K. Hayasaka, H. Hayashii, S. Hazra, C. Hearty, M. T. Hedges, I. Heredia De La Cruz, M. Hernández Villanueva, A. Hershenhorn, T. Higuchi, E. C. Hill, M. Hohmann, C. L. Hsu, T. Humair, T. Iijima, K. Inami, G. Inguglia, N. Ipsita, A. Ishikawa, S. Ito, R. Itoh, M. Iwasaki, P. Jackson, W. W. Jacobs, D. E. Jaffe, E. J. Jang, Q. P. Ji, S. Jia, Y. Jin, K. K. Joo, H. Junkerkalefeld, H. Kakuno, M. Kaleta, A. B. Kaliyar, J. Kandra, K. H. Kang, S. Kang, R. Karl, G. Karyan, T. Kawasaki, C. Kiesling, C. H. Kim, D. Y. Kim, K. H. Kim, Y. K. Kim, H. Kindo, K. Kinoshita, P. Kodyš, T. Koga, S. Kohani, K. Kojima, T. Konno, A. Korobov, S. Korpar, E. Kovalenko, R. Kowalewski, T. M.G. Kraetzschmar, P. KriŽan, P. Krokovny, T. Kuhr, J. Kumar, R. Kumar, K. Kumara, T. Kunigo, A. Kuzmin, Y. J. Kwon, S. Lacaprara, T. Lam, L. Lanceri, J. S. Lange, M. Laurenza, K. Lautenbach, R. Leboucher, F. R. Le Diberder, P. Leitl, C. Li, L. K. Li, Y. B. Li, J. Libby, K. Lieret, Z. Liptak, Q. Y. Liu, Z. Q. Liu, D. Liventsev, S. Longo, A. Lozar, T. Lueck, C. Lyu, M. Maggiora, S. P. Maharana, R. Maiti, S. Maity, R. Manfredi, E. Manoni, A. C. Manthei, M. Mantovano, S. Marcello, C. Marinas, L. Martel, C. Martellini, A. Martini, T. Martinov, L. Massaccesi, T. Matsuda, K. Matsuoka, D. Matvienko, S. K. Maurya, J. A. McKenna, F. Meier, M. Merola, F. Metzner, M. Milesi, C. Miller, K. Miyabayashi, H. Miyake, R. Mizuk, G. B. Mohanty, N. Molina-Gonzalez, S. Moneta, H. G. Moser, M. Mrvar, R. Mussa, I. Nakamura, K. R. Nakamura, M. Nakao, H. Nakayama, Y. Nakazawa, A. Narimani Charan, M. Naruki, D. Narwal, Z. Natkaniec, A. Natochii, L. Nayak, M. Nayak, G. Nazaryan, C. Niebuhr, N. K. Nisar, S. Nishida, S. Ogawa, H. Ono, Y. Onuki, P. Oskin, P. Pakhlov, G. Pakhlova, A. Paladino, A. Panta, E. Paoloni, S. Pardi, K. Parham, H. Park, J. Park, S. H. Park, B. Paschen, A. Passeri, S. Patra, S. Paul, T. K. Pedlar, I. Peruzzi, R. Peschke, R. Pestotnik, F. Pham, M. Piccolo, L. E. Piilonen, G. Pinna Angioni, P. L.M. Podesta-Lerma, T. Podobnik, S. Pokharel, L. Polat, C. Praz, S. Prell, E. Prencipe, M. T. Prim, H. Purwar, N. Rad, P. Rados, G. Raeuber, S. Raiz, A. Ramirez Morales, M. Reif, S. Reiter, M. Remnev, I. Ripp-Baudot, G. Rizzo, L. B. Rizzuto, S. H. Robertson, D. Rodríguez Pérez, J. M. Roney, A. Rostomyan, N. Rout, G. Russo, D. A. Sanders, S. Sandilya, A. Sangal, L. Santelj, Y. Sato, V. Savinov, B. Scavino, J. Schueler, C. Schwanda, A. J. Schwartz, Y. Seino, A. Selce, K. Senyo, J. Serrano, M. E. Sevior, C. Sfienti, C. Sharma, C. P. Shen, X. D. Shi, T. Shillington, J. G. Shiu, B. Shwartz, A. Sibidanov, F. Simon, J. B. Singh, J. Skorupa, R. J. Sobie, A. Soffer, A. Sokolov, E. Solovieva, S. Spataro, B. Spruck, M. Starič, S. Stefkova, Z. S. Stottler, R. Stroili, J. Strube, Y. Sue, M. Sumihama, K. Sumisawa, W. Sutcliffe, S. Y. Suzuki, H. Svidras, M. Takizawa, U. Tamponi, K. Tanida, H. Tanigawa, F. Tenchini, A. Thaller, R. Tiwary, D. Tonelli, E. Torassa, N. Toutounji, K. Trabelsi, I. Tsaklidis, M. Uchida, I. Ueda, Y. Uematsu, T. Uglov, K. Unger, Y. Unno, K. Uno, S. Uno, P. Urquijo, Y. Ushiroda, S. E. Vahsen, R. Van Tonder, G. S. Varner, K. E. Varvell, A. Vinokurova, V. S. Vismaya, L. Vitale, V. Vobbilisetti, A. Vossen, H. M. Wakeling, S. Wallner, E. Wang, M. Z. Wang, X. L. Wang, A. Warburton, M. Watanabe, S. Watanuki, M. Welsch, C. Wessel, J. Wiechczynski, E. Won, X. P. Xu, B. D. Yabsley, S. Yamada, W. Yan, S. B. Yang, H. Ye, J. Yelton, J. H. Yin, Y. M. Yook, K. Yoshihara, C. Z. Yuan, Y. Yusa, L. Zani, Y. Zhai, Y. Zhang, V. Zhilich, Q. D. Zhou, X. Y. Zhou, V. I. Zhukova, R. Žlebčík

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

2 Scopus citations

Abstract

We report measurements of the branching fraction and CP asymmetry in B0→π0π0 decays reconstructed at Belle II in an electron-positron collision sample containing 198×106 BB¯ pairs. We measure a branching fraction B(B0→π0π0)=(1.38±0.27±0.22)×10-6 and a CP asymmetry ACP(B0→π0π0)=0.14±0.46±0.07, where the first uncertainty is statistical and the second is systematic.

Original languageEnglish
Article number112009
JournalPhysical Review D
Volume107
Issue number11
DOIs
StatePublished - 1 Jun 2023
Externally publishedYes

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Measurement of the branching fraction and CP asymmetry of B0 →π0π0 decays using 198×106 B B ¯ pairs in Belle II data'. Together they form a unique fingerprint.

Cite this