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YBa2Cu3O7-δ films on GaAs with high critical current densities

  • W. Prusseit
  • , B. Utz
  • , S. Corsépius
  • , F. Baudenbacher
  • , K. Hirata
  • , P. Berberich
  • , H. Kinder
  • , O. Eibl
  • Technische Universität München
  • Siemens AG

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung

1 Zitat (Scopus)

Abstract

Epitaxial YBa2Cu3O7-δ films were grown on GaAs substrates using an intermediate MgO buffer layer. It turned out that the basic requirements in coping with GaAs related problems such as chemical instability and volatility are lowest possible deposition temperatures and proper encapsulation of bare GaAs faces, respectively. Applying our coevaporation technique we were able to achieve YBa2Cu3O7-δ films on GaAs which can compete with those on standard substrates (Tc = 87 K, ρ(100 K) = 40μΩcm, jc = 2 ·106 A/cm2 at 77 K).

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)215-217
Seitenumfang3
FachzeitschriftJournal of Alloys and Compounds
Jahrgang195
AusgabenummerC
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 10 Mai 1993

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „YBa2Cu3O7-δ films on GaAs with high critical current densities“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

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