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Versatile apparatus for attosecond metrology and spectroscopy
M. Fie, M. Schultze, E. Goulielmakis, B. Dennhardt, J. Gagnon, M. Hofstetter, R. Kienberger, F. Krausz
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung
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Zitate
(Scopus)