Sub-femtosecond free-electron laser pulses

W. Helml, A. R. Maier, W. Schweinberger, I. Grguras, P. Radcliffe, G. Doumy, C. Roedig, J. Gagnon, M. Messerschmidt, S. Schorb, C. Bostedt, F. Gruner, L. F. Dimauro, D. Cubaynes, J. D. Bozek, Th Tschentscher, J. T. Costello, M. Meyer, R. Coffee, S. DustererA. L. Cavalieri, R. Kienberger

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandKonferenzbeitragBegutachtung

Abstract

Deploying the so-called 'Streaking Spectroscopy' technique at LCLS, we demonstrate a non-invasive scheme for temporal characterization of X-ray pulses with sub-femtosecond resolution. Analyzing the substructure indicates pulse durations on the order of hundreds of attoseconds.

OriginalspracheEnglisch
Titel2015 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2015
Herausgeber (Verlag)Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ISBN (elektronisch)9781557529688
PublikationsstatusVeröffentlicht - 10 Aug. 2015
VeranstaltungConference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2015 - San Jose, USA/Vereinigte Staaten
Dauer: 10 Mai 201515 Mai 2015

Publikationsreihe

NameConference on Lasers and Electro-Optics Europe - Technical Digest
Band2015-August

Konferenz

KonferenzConference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2015
Land/GebietUSA/Vereinigte Staaten
OrtSan Jose
Zeitraum10/05/1515/05/15

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Sub-femtosecond free-electron laser pulses“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

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