Sub-femtosecond free-electron laser pulses

W. Helml, A. R. Maier, W. Schweinberger, I. Grguraš, P. Radcliffe, G. Doumy, C. Roedig, J. Gagnon, M. Messerschmidt, S. Schorb, C. Bostedt, F. Grüner, L. F. DiMauro, D. Cubaynes, J. D. Bozek, Th Tschentscher, J. T. Costello, M. Meyer, R. Coffee, S. DüstererA. L. Cavalieri, R. Kienberger

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandKonferenzbeitragBegutachtung

Abstract

Deploying the so-called 'Streaking Spectroscopy' technique at LCLS, we demonstrate a non-invasive scheme for temporal characterization of X-ray pulses with sub-femtosecond resolution. Analyzing the substructure indicates pulse durations on the order of hundreds of attoseconds.

OriginalspracheEnglisch
TitelCLEO
UntertitelScience and Innovations, CLEO-SI 2015
Herausgeber (Verlag)Optical Society of America (OSA)
Seiten2267
Seitenumfang1
ISBN (elektronisch)9781557529688
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 4 Mai 2015
VeranstaltungCLEO: Science and Innovations, CLEO-SI 2015 - San Jose, USA/Vereinigte Staaten
Dauer: 10 Mai 201515 Mai 2015

Publikationsreihe

NameCLEO: Science and Innovations, CLEO-SI 2015

Konferenz

KonferenzCLEO: Science and Innovations, CLEO-SI 2015
Land/GebietUSA/Vereinigte Staaten
OrtSan Jose
Zeitraum10/05/1515/05/15

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Sub-femtosecond free-electron laser pulses“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

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