Strong-field-induced attosecond dynamics in SiO2

M. Schultze, E. M. Bothschafter, A. Sommer, S. Holzner, M. Fiess, M. Hofstetter, R. Kienberger, V. Apalkov, V. S. Yakovlev, M. I. Stockman, F. Krausz

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandKonferenzbeitragBegutachtung

Abstract

Striking field-induced changes in the absorption near the Si L-edge of SiO2 exposed to a near-infrared laser field of several V/Å delivered by a few-cycle pulse are observed with sub-100 attosecond extreme ultraviolet pulses by means of attosecond transient absorption.

OriginalspracheEnglisch
Titel18th International Conference on Ultrafast Phenomena, UP 2012
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2013
Veranstaltung18th International Conference on Ultrafast Phenomena, UP 2012 - Lausanne, Schweiz
Dauer: 8 Juli 201213 Juli 2012

Publikationsreihe

NameEPJ Web of Conferences
Band41
ISSN (Print)2101-6275
ISSN (elektronisch)2100-014X

Konferenz

Konferenz18th International Conference on Ultrafast Phenomena, UP 2012
Land/GebietSchweiz
OrtLausanne
Zeitraum8/07/1213/07/12

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Strong-field-induced attosecond dynamics in SiO2“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

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