Revealing the Negative Capacitance Effect in Silicon Quantum Dot Light-Emitting Diodes via Temperature-Dependent Capacitance-Voltage Characterization

J. Mock, M. Kallergi, E. Gros, M. Golibrzuch, B. Rieger, M. Becherer

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

4 Zitate (Scopus)

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