Overcoming inefficiencies in patent licensing: A method to assess patent essentiality for technical standards

Rudi Bekkers, Elena M. Tur, Joachim Henkel, Tommy van der Vorst, Menno Driesse, Jorge L. Contreras

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

11 Zitate (Scopus)

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