Metal deposition near the tip of a scanning tunneling microscope

J. Divisek, B. Steffen, U. Stimming, Wolfgang Schmickler

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Abstract

We have performed model calculations for the deposition of metal ions in the vicinity of the tip of a scanning tunneling microscope. Our results show that near the tip mass transport towards the substrate is greatly reduced. These findings may explain shielding effects that have been observed experimentally.

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)169-172
Seitenumfang4
FachzeitschriftJournal of Electroanalytical Chemistry
Jahrgang440
Ausgabenummer1-2
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 20 Dez. 1997
Extern publiziertJa

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Metal deposition near the tip of a scanning tunneling microscope“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

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