Lateral structuring of silicon thin films by interference crystallization

M. Heintze, P. V. Santos, C. E. Nebel, M. Stutzmann

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

48 Zitate (Scopus)

Abstract

Laterally structured microcrystalline silicon in the submicron range has been produced from amorphous silicon thin films by transient holography using a high-energy pulse laser. The energy density along the lines of the transient optical grid is sufficient to induce crystallization at the intensity maxima. Large area laterally structured microcrystalline silicon has been produced by selectively etching the amorphous phase with simultaneous growth of μc-Si:H in a hydrogen-silane plasma.

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)3148-3150
Seitenumfang3
FachzeitschriftApplied Physics Letters
Jahrgang64
Ausgabenummer23
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1994

Fingerprint

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