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Laser crystallisation of silicon-germanium alloys
C. Eisele
, C. E. Nebel
,
M. Stutzmann
TUM Emeriti of Excellence
Walter Schottky Institut
Publikation
:
Beitrag in Fachzeitschrift
›
Konferenzartikel
›
Begutachtung
4
Zitate (Scopus)
Übersicht
Fingerprint
Fingerprint
Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Laser crystallisation of silicon-germanium alloys“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.
sortieren
Gewicht:
Alphabetisch
Keyphrases
Silicon-germanium Alloy
100%
Laser Crystallization
100%
Crystallization
50%
Si Film
50%
Laser Interference
50%
Lateral Grain Growth
50%
Interference Pattern
50%
In Situ
25%
Scanning Laser
25%
Conductance
25%
Germanium
25%
Photocurrent
25%
Atomic Force Microscopy
25%
Crystallization Process
25%
Grain Boundary
25%
Lateral Growth
25%
Grain Size
25%
Ge Film
25%
Thin-film Silicon
25%
Anisotropic Behavior
25%
Growth Direction
25%
Absorption Coefficient
25%
Selective Etching
25%
Effusion Cell
25%
Photothermal Deflection Spectroscopy
25%
SiGe Film
25%
E-beam Evaporator
25%
Single Pulse Laser
25%
Silicon-germanium
25%
Engineering
Interference Pattern
100%
Photocurrent
50%
Atomic Force Microscopy
50%
Crystallizes
50%
Lateral Growth
50%
Evaporator
50%
Single Pulse
50%
Anisotropic Behavior
50%
Selective Etching
50%
Absorptivity
50%
Absorption Coefficient
50%
Grain Size
50%
Material Science
Film
100%
Si-Ge Alloys
100%
Silicon
66%
Germanium
66%
Atomic Force Microscopy
33%
Crystallization
33%
Grain Size
33%
Laser Pulse
33%
Grain Boundary
33%