Large Tolerance of Lasing Properties to Impurity Defects in GaAs(Sb)-AlGaAs Core-Shell Nanowire Lasers

T. Schreitmüller, H. W. Jeong, H. Esmaielpour, C. E. Mead, M. Ramsteiner, P. Schmiedeke, A. Thurn, A. Ajay, S. Matich, M. Döblinger, L. J. Lauhon, J. J. Finley, G. Koblmüller

Publikation: KonferenzbeitragPapierBegutachtung

Abstract

Performance limiting factors for GaAs(Sb)-AlGaAs nanowire (NW) lasers are unveiled by exploring the impact of impurity-induced point defects. Lasing properties show large tolerance to these defects which, however, limit radiative efficiency and lasing threshold beyond critical densities.

OriginalspracheEnglisch
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2024
VeranstaltungCLEO: Science and Innovations in CLEO 2024, CLEO: S and I 2024 - Part of Conference on Lasers and Electro-Optics - Charlotte, USA/Vereinigte Staaten
Dauer: 5 Mai 202410 Mai 2024

Konferenz

KonferenzCLEO: Science and Innovations in CLEO 2024, CLEO: S and I 2024 - Part of Conference on Lasers and Electro-Optics
Land/GebietUSA/Vereinigte Staaten
OrtCharlotte
Zeitraum5/05/2410/05/24

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Large Tolerance of Lasing Properties to Impurity Defects in GaAs(Sb)-AlGaAs Core-Shell Nanowire Lasers“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

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