Abstract
Post-masking patterns of 300 Hz wideband of noise centered at 8 kHz with 50 db SPL, of a pure tone at 8. 75 kHz with 70 db SPL and of a combination of noise plus tone are determined at delay-times of 0 to 100 ms. Patterns for tone plus noise resemble patterns for the tone alone. In a region around 8 kHz the combination of tone plus noise elicits considerable lower (15 db) post-masked thresholds than the noise alone.
| Titel in Übersetzung | INTERAKTION DER NACHHOERSCHWELLEN-TONHEITS-ZEITMUSTER ZWEIER MASKIERENDER SCHALLE. |
|---|---|
| Originalsprache | Englisch |
| Seiten (von - bis) | 70-74 |
| Seitenumfang | 5 |
| Fachzeitschrift | Acustica |
| Jahrgang | 50 |
| Ausgabenummer | 1 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 1982 |