Zur Hauptnavigation wechseln
Zur Suche wechseln
Zum Hauptinhalt wechseln
Technische Universität München Home
Hilfe und FAQ
Link wird in einem neuen Tab geöffnet
English
Deutsch
Inhalt suchen unter Technische Universität München
Home
Personen
Einrichtungen
Projekte
Publikationen
Ausstattungen/Einrichtungen
Auszeichnungen
Aktivitäten
Presseberichte
Hydrogen in gallium nitride grown by MOCVD
O. Ambacher
, H. Angerer
, R. Dimitrov
, W. Rieger
,
M. Stutzmann
, G. Dollinger
, A. Bergmaier
TUM Emeriti of Excellence
Walter Schottky Institut
Technische Universität München
Publikation
:
Beitrag in Fachzeitschrift
›
Artikel
›
Begutachtung
48
Zitate (Scopus)
Übersicht
Fingerprint
Fingerprint
Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Hydrogen in gallium nitride grown by MOCVD“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.
sortieren
Gewicht:
Alphabetisch
Keyphrases
Ammonia
100%
Gallium Nitride
100%
Metal-organic Chemical Vapor Deposition (MOCVD)
100%
Hydrogen Effusion
100%
Bulk Material
50%
Temperature Range
50%
Reaction Products
50%
Structural Properties
50%
Deposition Rate
50%
Activation Energy
50%
Deuterium
50%
Molecular Hydrogen
50%
Mass Spectrometry
50%
Substrate Temperature
50%
Isotopic Substitution
50%
Thermally Activated Processes
50%
Metal-organic Complex
50%
Total Concentration
50%
Epitaxial GaN
50%
Gasses
50%
Thermal Desorption
50%
Elastic Recoil Detection Analysis
50%
H2 Carrier
50%
Hydrogen Substitution
50%
Deuterium Incorporation
50%
GaN-on-sapphire
50%
Trimethylgallium
50%
Magnesium Doped
50%
Acceptor Activation
50%
N-type GaN
50%
Activated Hydrogen
50%
Chemical Engineering
Gallium Nitride
100%
Metallorganic Chemical Vapor Deposition
100%
Deuterium
100%
Thermal Desorption
50%
Mass Spectrometry
50%
Deposition Rate
50%
Film
50%
Material Science
Gallium Nitride
100%
Deuterium
100%
Desorption
50%
Activation Energy
50%
Sapphire
50%
Magnesium
50%
Structural Property
50%
Thin Films
50%