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Harmonic Voltage Reflection Analysis of UHF RFID Chips
Florian Muralter
, Michael Hani
, Hugo Landaluce
, Asier Perallos
,
Erwin M. Biebl
Professur für Höchstfrequenztechnik
University of Deusto
Technische Universität München
Publikation
:
Beitrag in Fachzeitschrift
›
Artikel
›
Begutachtung
1
Zitat (Scopus)
Übersicht
Fingerprint
Fingerprint
Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Harmonic Voltage Reflection Analysis of UHF RFID Chips“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.
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Gewicht:
Alphabetisch
Keyphrases
Digital Sampling Oscilloscope
50%
Harmonic Characterization
25%
Harmonic Voltage
100%
Incident Wave
25%
Load Modulation
25%
Measurement Platform
25%
Measurement Results
25%
Nonlinear Behavior
25%
Power Spectral Density Analysis
25%
Radio Frequency Identification
100%
Real-time Sampling
25%
Reflected Wave
25%
Reflection Analysis
100%
Reflection Coefficient
50%
Signal Processing
25%
Simultaneous Measurement
25%
Time Domain Reflection
25%
Ultra-high Frequency
100%
Vector Network Analyzer
25%
Voltage Reflection
100%
Engineering
Digital Sampling Oscilloscope
50%
Harmonic Voltage
100%
Harmonics
25%
Incident Wave
25%
Network Analyzer
25%
Nonlinear Behavior
25%
Power Spectral Density
25%
Radio Frequency Identification
100%
Reflectance
50%
Reflected Wave
25%
Sampling Time
25%
Time Domain
25%
Physics
Harmonics
100%
Power Spectral Density
50%
Reflectance
100%
Reflected Wave
50%
Signal Processing
50%