Fermi level pinning at gan-interfaces: Correlation of electrical admittance and transient spectroscopy

H. Witte, A. Krtschil, M. Lisker, D. Rudloff, J. Christen, A. Krost, M. Stutzmann, F. Scholz

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Fermi level pinning at gan-interfaces: Correlation of electrical admittance and transient spectroscopy“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

Keyphrases

Material Science

Engineering