Fault ordering for automatic test pattern generation of reversible circuits

Robert Wille, Hongyan Zhang, Rolf Drechsler

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandKonferenzbeitragBegutachtung

5 Zitate (Scopus)

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Fault ordering for automatic test pattern generation of reversible circuits“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

Computer Science

Keyphrases