Ex-situ and in-situ analysis of MoVTeNb oxide by aberration-corrected scanning transmission electron microscopy

Pinghong Xu, Maricruz Sanchez-Sanchez, Andre C. Van Veen, Nigel D. Browning, Johannes A. Lercher

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzartikelBegutachtung

1 Zitat (Scopus)
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)108-109
Seitenumfang2
FachzeitschriftMicroscopy and Microanalysis
Jahrgang20
Ausgabenummer3
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Aug. 2014
VeranstaltungMicroscopy and Microanalysis 2014, M and M 2014 - Hartford, USA/Vereinigte Staaten
Dauer: 3 Aug. 20147 Aug. 2014

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