Originalsprache | Englisch |
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Seiten (von - bis) | 108-109 |
Seitenumfang | 2 |
Fachzeitschrift | Microscopy and Microanalysis |
Jahrgang | 20 |
Ausgabenummer | 3 |
DOIs | |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 1 Aug. 2014 |
Veranstaltung | Microscopy and Microanalysis 2014, M and M 2014 - Hartford, USA/Vereinigte Staaten Dauer: 3 Aug. 2014 → 7 Aug. 2014 |
Ex-situ and in-situ analysis of MoVTeNb oxide by aberration-corrected scanning transmission electron microscopy
Pinghong Xu, Maricruz Sanchez-Sanchez, Andre C. Van Veen, Nigel D. Browning, Johannes A. Lercher
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzartikel › Begutachtung
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Zitat
(Scopus)