Electronic structure and screening dynamics of ethene on single-domain Si(001) from resonant inelastic x-ray scattering
- A. Föhlisch
- , F. Hennies
- , W. Wurth
- , N. Witkowski
- , M. Nagasono
- , M. N. Piancastelli
- , L. V. Moskaleva
- , K. M. Neyman
- , N. Rösch
- Universität Hamburg
- Laboratoire d'Optique des Solides
- Kyoto University
- University of Rome Tor Vergata
- Technische Universität München
- Universitat de Barcelona
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung
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Zitate
(Scopus)