Critical area analysis for design‐based yield improvement of vlsi circuits
- Doris Schmitt‐Landsiedel
- , Doris Keitel‐Schulz
- , Jitendra Khare
- , Susanne Griep
- , Wojciech Maly
- Siemens AG
- Carnegie Mellon University
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung
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Zitate
(Scopus)