Abstract
The incorporation properties segregation, activation, and desorption in Si molecular beam epitaxy of phosphorus (P) are investigated experimentally in comparison to antimony (Sb) over a temperature range from 300 to 900°C with Secondary Ion Mass Spectroscopy and electrochemical Capacitance/Voltage measurements. P exhibits superior properties over the full temperature range.
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 937-940 |
| Seitenumfang | 4 |
| Fachzeitschrift | Journal of Applied Physics |
| Jahrgang | 78 |
| Ausgabenummer | 2 |
| DOIs | |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 1995 |
Fingerprint
Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Comparison of P and Sb as n-dopants for Si molecular beam epitaxy“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.Dieses zitieren
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver