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Bipolar magnetotransistor: Relative sensitivity revisited

  • ETH Zürich

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandKonferenzbeitragBegutachtung

Abstract

In this paper we deduce and discuss a new analytical expression for the relative magnetic sensitivity Sr of bipolar magnetotransistors, which incorporates the ambipolar nature of the device operation in the description of the magnetic performance. Our expression accounts for the previously reported [1] trade-off between optimal electrical performance and maximum magnetic sensitivity, commonly found in bipolar magnetotransistors. Moreover, we are able to express Sr in terms of electrical parameters, such as emitter efficiency and common-emitter current gain, physical parameters, like minority carrier diffusion length or minority-carrier lifetime in the base region, and geometrical parameters, like the lateral spacing between emitter and collector.

OriginalspracheEnglisch
TitelEuropean Solid-State Device Research Conference
Redakteure/-innenPeter Ashburn, Chris Hill
Herausgeber (Verlag)IEEE Computer Society
Seiten71-74
Seitenumfang4
ISBN (elektronisch)2863321579
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1994
Veranstaltung24th European Solid State Device Research Conference, ESSDERC 1994 - Edinburgh, Großbritannien/Vereinigtes Königreich
Dauer: 11 Sept. 199415 Sept. 1994

Publikationsreihe

NameEuropean Solid-State Device Research Conference
ISSN (Print)1930-8876

Konferenz

Konferenz24th European Solid State Device Research Conference, ESSDERC 1994
Land/GebietGroßbritannien/Vereinigtes Königreich
OrtEdinburgh
Zeitraum11/09/9415/09/94

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Bipolar magnetotransistor: Relative sensitivity revisited“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

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