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An Intelligent Factory Automation System with Multivariate Time Series Algorithm for Chip Probing Process
Yu Ming Hsieh, Chin Yi Lin, Jan Wilch, Birgit Vogel-Heuser, Yu Chen Lin, Yu Chuan Lin, Min Hsiung Hung, Fan Tien Cheng
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Begutachtung
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(Scopus)